高溫型粉末電阻率測試儀研發
功能概述:
1.采用集成電路模塊； USB，232通訊接口，直流恒流源 ，四點探針法(方塊電阻)或四端法(體積電阻)測量模式，采用PC軟件操作;
2.粉體受到溫度變化壓縮前及壓縮后壓力增減過程中粉體因自身特性內聚力反彈形變或恢復過程變化曲線圖譜；自動測試過程數據曲線及圖譜分析，實時分析溫度/壓強/壓力與電阻，電阻率，電導率的變化關系，及報表生成，存儲，打印等；
3.數據的對比分析,如常溫與其他溫度條件下曲線圖譜關系分析.高溫型粉末電阻率測試儀研發
高溫型粉末電阻率測試儀研發
適用范圍：
1.四點探針法適用于半導體粉末材料的分析與檢測；如需要在高溫下分析粉末電導率的新材料鋰離子負極材料等新應用材料.
2.四端法適用于導電粉末材料體積電阻的測量分析.如需要在高溫下分析粉末電導率的導點材料；石墨類，碳素等
3.應用于企業品質檢測；研發部門，大中專院校；科研院所及質量檢測機構.
高溫型粉末電阻率測試儀研發
參數資料
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規格型號 |
FT-354A |
FT-354B |
FT-354C |
FT-354D |
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1.方阻/電阻范圍 |
10-5～2×105Ω/□ |
10-6～2×105Ω/□ |
10-7～2×107Ω |
10-8～2×105Ω |
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2.電阻率范圍 |
10-6～2×106Ω-cm |
10-7～2×107Ω-cm |
10-7～2×107Ω-cm |
10-8～2×105Ω-cm |
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電導率范圍 |
5×10-6～106ms/cm |
5×10-7～107ms/cm |
5×10-7～107s/cm |
5 ×10-5～108s/cm |
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3.測試電流范圍 |
0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA |
10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA、1000mA |
1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，1000mA |
0-10A，100uA |
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4.電流精度 |
±0.1% |
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軟件界面
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電阻、電阻率、方阻、溫度、單位切換、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率、圖譜顯示，壓力設定，壓強，報表導出，波形刷新，時間設定，啟動、停止、運行 |
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6.測試方法 |
四探針法（方塊電阻） |
四端法（體積電阻） |
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7.模具 |
標配：a.壓力200kg和300kg機型模具內徑10mm； b. 壓力500kg和1000kg機型模具內徑20mm； 模具行程高25mm ； |
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8. 壓力選購 |
a.200kg； b.300kg； c.500kg； d.1000kg |
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9. 模腔行程： |
0-20mm（樣品壓實厚度建議在4mm內） |
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10. 樣品高度 |
樣品高度范圍：0.001-10.000mm，測量分辨率0.001mm，可測樣品壓縮厚度0.1mm |
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11. 恒壓時間： time: |
0-99.9s |
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12.溫度范圍 |
常溫-500度； |
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13. 標配標準件 |
a.標準校準電阻1個；b.標準高度校準件1個 |
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14. 測試方式 |
PC軟件操作 |
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15. 加壓方式 |
自動 |
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16. 脫模方式 |
自動 |
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17.電極材質 |
紫銅 |
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18.吸塵系統 |
外置吸塵處理 |
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19.誤差： |
3%； 重復性誤差2%以內（平均性誤差，人為因數外） |
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20.工作電源: |
輸入: AC 220V±10% ,50Hz |
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21. 標配外選購
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a.電腦和打印機依據客戶要求配置； b.計量證書1份 c.水分儀 d.真密度儀 |
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高溫型粉末電阻率測試儀研發
粉體綜合分析解決方案：
FT-3400粉體流動行為分析儀（靜態力學，剪切法）
FT-7100粉體流動測試儀（動態力學，轉鼓法或旋轉圓筒法）
FT-3900粉末屈服強度分析儀（單軸壓縮法）
FT-3500粉體壓縮強度測試儀（可壓性，壓縮方程）
FT-2000顆粒和粉末特性分析儀系列(傳統方法)
FT-301系列粉末電阻率測試系統（電性能）
高溫型粉末電阻率測試儀研發
ROOKO瑞柯儀器
-------專注于粉體&新材料測量與分析儀器解決方案
----解決粉體表征：
流與不流分析 ；粒度；水分；體積分析；電導性、靜電電荷分析.
----我們一直在做：
研發、生產、銷售、租賃、實驗室樣品分析及后延擴展服務.
