產品詳情
簡單介紹：
高溫電阻率測試儀采用PC軟件一套，USB通訊接口，軟件界面同步顯示、分析、保存和打印數據！ 多功能，測試量程范圍寬，可更換探針結構，高溫電阻率測試儀
詳情介紹：
高溫電阻率測試儀
1、電阻測量范圍： 1×104Ω ～1×1013Ω。
電 阻 率：1.0×104 ～ 2.0×1013 Ω-m；
2、液晶顯示: 電阻率、溫度、電流電壓、可輸入測試樣品數據；單位可以切換（mm、cm、m）
3、內置測試電壓：0-1000V任意可設定
4、基本準確度：2%
高溫電阻率測試儀
5、機內測試電壓: 10/50/100/250/500/1000V 任意設定
6、供電形式: AC 220V，50HZ，功耗約5W
7、測量模式：手動/自動量程。帶PC測試軟件，USB通訊接口，軟件界面同步顯示、分析、保存和打印數據！
8、常用電極(夾具)裝置：固體狀三環電極裝置
9.*高溫度： 1200℃可調節；沖溫值：≤1-3℃；控溫精度：±1°C
10、升溫速度：9999分鐘以內自由設定,一般10分鐘內即可升到900℃；功率：3kw.
11、爐膛材料：采用復合陶瓷纖維材料，具有真空成型，高溫不掉粉的特征。
12.選購：電腦和打印機
高溫電阻率測試儀
用于：企業、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃（ITO）和其它導電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導率數據.
雙電測四探針儀是運用直線四探針雙位測量。設計參照單晶硅物理測試方法并參考美國 A.S.T.M 標準。
采用四探針雙電組合測量方法測試方阻和電阻率系統與高溫箱結合配置高溫四探針測試探針治具與PC軟件對數據的處理和測量控制，解決半導體材料的電導率對溫度變化測量要求，軟件實時繪制出溫度與電阻，電阻率，電導率數據的變化曲線圖譜，及過程數據值的報表分析.
高溫電阻率測試儀
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