一、用途：

    GM-400E大平臺硅片檢測顯微鏡是適用于對太陽能電池硅片的顯微觀察。本儀器配有大移動范圍的載物臺、落射照明器、長工作距離的平場消色差物鏡、大視野目鏡，圖像清晰、襯度好，同時配有偏光裝置，及其高像素的數碼攝像頭.是檢測太陽能電池硅片的”金字塔” 的微觀形貌分布情況,及硅片的缺陷分析的理想儀器.

硅片檢測顯微鏡可以觀察到肉眼難觀測的位錯、劃痕、崩邊等;還可以對硅片的雜質、殘留物成分分析.雜質包括: 顆粒、有機雜質、無機雜質、金屬離子、硅粉粉塵等，造成磨片后的硅片易發生變花、發藍、發黑等現象，使磨片不合格. 是太陽能電池硅片生產過程中必不可少的檢測儀器之一.

二、技術參數

1.目鏡

   2.物鏡

3.光學放大倍數：50X -- 800X     系統參考放大倍數：50X-5000X
4.濾色片組：黃色、藍色、綠色、磨砂玻璃
5.偏光裝置：可插入式起偏振片和三目頭內置檢偏振片
6.載物臺：(配有快速移動裝置)
   尺寸：250*230mm   移動范圍：153*153mm[標配]
   尺寸：274*274mm   移動范圍：203*203mm[選配]
7.粗微同軸調焦機構，微動手輪格值：0.002mm
8.落射照明器：6V/20W鹵素燈，亮度可調
9.防霉：特有的防霉系統

10.成像系統:500萬高像素的數字攝像頭

三、系統組成

大平臺硅片檢測顯微鏡(GM-400E): 1.顯微鏡 2.適配鏡 3、500萬高像素攝像頭

                               4、計算機(選配)

四、總放***倍數

   電腦型硅片檢測顯微鏡（GM-400E)：50--40000倍（17寸顯示器為例）

五、選購件  

  1.測量軟件  2.目鏡： 20X 10X(帶刻度) 

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