如果您對該產品感興趣的話,可以
產品名稱:
反射光譜薄膜測厚儀
產品型號:
TFMS-LD
產品展商:
MTI
產品價格:
0.00 元
簡單介紹
TFMS-LD是一款反射光譜薄膜測厚儀，可快速精-確地測量透明或半透明薄膜的厚度，其測量膜厚范圍為15nm-50um，儀器所發出測試光的波長范圍為400nm-1100nm。此款測試系統理論基礎為鏡面反射率，并且采用光纖反射探頭。儀器尺寸小巧，方便于在實驗室中擺放和使用。
反射光譜薄膜測厚儀的詳細介紹
技術參數
|
測量膜厚范圍
|
15nm-50um
|
|
光譜波長
|
400 nm - 1100 nm
|
|
主要測量透明或半透明薄膜厚度
|
-
氧化物
-
氮化物
-
光刻膠
-
半導體（硅，單晶硅，多晶硅等）
-
半導體化合物（ALGaAs,InGaAs,CdTe,CIGS等）
-
硬涂層（碳化硅，類金剛石炭）
-
聚合物涂層(聚對二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)
-
金屬膜（點擊圖片可查看詳細資料）
-
 
|
|
特點
|
-
測量和數據分析同時進行，可測量單層膜，多層膜，無基底和非均勻膜
-
包含了500多種材料的光學常數，新材料參數也可很容易地添加，支持多重算法：Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等
-
體積較小，方便擺放和操作
-
可測量薄膜厚度，材料光學常數和表面粗糙度
-
使用電腦操作，界面中點擊，即可進行測量和分析
|
|
精度
|
0.01nm或0.01%
|
|
準確度
|
0.2%或1nm
|
|
穩定性
|
0.02nm或0.02%
|
|
光斑尺寸
|
標準3mm,可以小至3um
|
|
要求樣品大小
|
大于1mm
|
|
分光儀/檢測器
|
-
400 - 1100 nm 波長范圍
-
光譜分辨率: < 1 nm
-
電源 100 -250 VAC, 50/60 Hz 20W
-
|
|
光源
|
-
5W的鎢鹵素燈
-
色溫：2800K
-
使用壽命:1000小時
|
|
反射探針
|
-
光學纖維探針，400um纖維芯
-
配有分光儀和光源支架
|
|
載樣臺
|
測量時用于放置測量的樣品
|
|
通訊接口
|
USB接口，方便與電腦對接
|
|
TFCompanion軟件
|
-
強大的數據庫包含兩500多種材料的光學常數（n：折射率，K：消失系數）
-
-
誤差分析和模擬系統，保證在不同環境下對樣品測量的準確性
-
可分析簡單和復雜的膜系
-
|
|
設備尺寸
|
200x250x100mm
|
|
重量
|
4.5kg
|
- 溫馨提示：為規避購買風險，建議您在購買前務必確認供應商資質與產品質量。
- 免責申明：以上內容為注冊會員自行發布，若信息的真實性、合法性存在爭議，平臺將會監督協助處理，歡迎舉報
反射光譜薄膜測厚儀相關產品
Copyright@ 2003-2025
深圳市科晶智達科技有限公司版權所有