簡單介紹
E4991A 射頻阻抗/材料分析提供極限阻抗測量性能和功能
強大的內置分析功能。它將為元器件和電路設計人員測量
3 GHz 以內的元器件提供**功能,幫助他們進行研發工
作。與反射測量技術不同,E4991A 使用射頻電流–電壓
(RF-IV)技術,可在廣泛的阻抗范圍內提供更**的阻
抗測量結果。基本阻抗度是 +/-0.8%。高 Q 精度有利
于進行低功耗元器件分析。內置合成器具有 1 MHz到 3
GHz 的掃描范圍和 1 mHz的分辨率。
產品描述
主要特性與技術指標
基本精度
基本精度 +/-0.8%
掃描參數
頻率:1 MHz 至 3 GHz
振蕩器電平:高達 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms
基本精度
基本精度 +/-0.8%
掃描參數
頻率:1 MHz 至 3 GHz
振蕩器電平:高達 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms
DC 偏置電平(選件 E4991A-001):+/- 40V 或 +/- 50
描述
E4991A 射頻阻抗/材料分析提供極限阻抗測量性能和功能
強大的內置分析功能。它將為元器件和電路設計人員測量
3 GHz 以內的元器件提供**功能,幫助他們進行研發工
作。與反射測量技術不同,E4991A 使用射頻電流–電壓
(RF-IV)技術,可在廣泛的阻抗范圍內提供更**的阻
抗測量結果。基本阻抗精度是 +/-0.8%。高 Q 精度有利
于進行低功耗元器件分析。內置合成器具有 1 MHz到 3
GHz 的掃描范圍和 1 mHz的分辨率。
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