- 如果您對該產(chǎn)品感興趣的話，可以
- 產(chǎn)品名稱：MIA-1251 LCR阻抗分析儀
- 產(chǎn)品型號：MIA-1251
- 產(chǎn)品展商：日本目黑MEGURO
- 產(chǎn)品文檔：無相關文檔
簡單介紹
MIA-1251 LCR阻抗分析儀在進行多種評估測試時極為方便。選件備有圖形掃描功能, 可通過頻率或AC驅(qū)動電平將參數(shù)坐標化, 對理解被測物在不同條件下如何發(fā)生變化起到幫助。另外附帶有將坐標進行打印及保存的軟件。由于備有高精度的信號源及豐富的測試?顯示功能, 本系列產(chǎn)品可廣泛使用于各設計開發(fā)以及生產(chǎn)部門。
產(chǎn)品描述
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MIA-1251 LCR阻抗分析儀搭載了可對20Hz至10MHz的寬頻測試頻率, 以頻率**度±0.005%進行輸出的信號源。結合5位數(shù)的設定分辨率 ,在實際的操作使用中, 可以以高精度測試信號對被測物特性進行評估測試。本系列*多可定義30 step的測試條件, 同時搭載有可保存及呼出*多64組測試條件的內(nèi)置儲存器, 在進行多種評估測試時極為方便。選件備有圖形掃描功能, 可通過頻率或AC驅(qū)動電平將參數(shù)坐標化, 對理解被測物在不同條件下如何發(fā)生變化起到幫助。另外附帶有將坐標進行打印及保存的軟件。由于備有高精度的信號源及豐富的測試•顯示功能, 本系列產(chǎn)品可廣泛使用于各設計開發(fā)以及生產(chǎn)部門。
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可對使用頻度較高的幾乎所有的參數(shù)進行測試。 |
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|Z|, R, X, |Y|, G, B, C, L, D, Q, θ, ESR, Rdc, Δ% |
| ■ |
測試頻率 : 20Hz～10MHz, 測試頻率**度 : ±0.005% |
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設定分辨率 : 5位數(shù), 基本測試**度 : ±0.1% |
| ■ |
為了在調(diào)整可調(diào)被測物時能夠直觀查看調(diào)整值, 可進行模擬柱狀坐標顯示。 |
| ■ |
通過設定**測試參數(shù)的上限值與下限值, 可以數(shù)值或%進行HIGH/PASS/LOW判定, 方便于選別。 |
| ■ |
大型LCD顯示器及軟體按鍵, 使操作變得更為簡單。 |
| 測試項目 |
| 測試參數(shù) |
|Z|, R, X, |Y|, G, B, C, L, D, Q, θ, ESR, Δ% |
| 等效電路：串聯(lián)/并聯(lián) Rdc |
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| 測試信號 |
| 測試頻率 |
20Hz ～ 10MHz |
| 頻率分辨率 |
5 Digits |
| 頻率**度 |
±0.005% |
| 輸出阻抗 |
100? |
| AC 外加電壓 |
10mV ～ 2Vrms, 1mVrms steps |
| 測量范圍 |
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| |Z|, R, X |
0.1m? ～ 100M? |
| |Y|, G, B |
10nS ～ 1.000S |
| C |
0.01pF ～ 1F |
| L |
0.01nH ～ 100kH |
| D |
0.00001 ～ 9.9999 |
| Q |
0.1 ～ 9999.9 |
| θ |
-180º ～ +180º |
| Rdc |
0.1m? ～ 100M? |
| Δ% |
-999.99% ～ 999.99% |
| 基本**度 |
±0.1% |Z|, R, X, |Y|, G, B, C, L |
| 測量速度 |
DC *高: 30ms, 高速: 60ms, 中速: 120ms, 低速: 500ms |
| AC *高: 75ms, 高速: 150ms, 中速: 450ms, 低速: 600ms |
| LCD 顯示 |
320×240 Graphic Display |
| 校正功能 |
開路校正/短路校正 |
| 比較器設定 |
**測試參數(shù)，測試單位/百分比(%)偏差 |
| 比較器顯示 |
HIGH/PASS/LOW, 蜂鳴器 |
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| 其他功能 |
| 保存/呼出 |
可保存并呼出64組的Multi-step設定 |
| 存檔功能 |
在電源被切斷或發(fā)生電源異常時, 設定條件將被自動存檔 |
| 介面 |
RS-232C、GP-IB、Handler (EXT I/O)(選件) |
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| 一般規(guī)格 |
| 電源電壓 |
AC90 ～ 132V AC198 ～ 264V |
| 電源頻率 |
50/60Hz |
| 動作溫度范圍 |
10ºC ～ 40ºC |
| 性能保障溫度范圍 |
18ºC ～ 28ºC |
| 外形尺寸 |
約 340 (W) ×150 (H) ×525 (D) mm |
| 重量 |
約 6.5kg |
| 附帶軟件 |
電腦操控軟件 |
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| 為滿足用戶多樣化測試需求，另備有多種治具(JIG)、測試夾具及其它周邊配件。 |
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| * |
以上各記載的規(guī)格及外觀等,如因改善性能而有若干改變時,恕不另行通知。 |
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