UV-A（雙通道）紫外輻照計產品用途 UV-A型紫外輻照計采用SMT貼片技術，選用低功耗數字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經過光譜及角度特性校正，性能穩定，適用性強。該儀器適用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。 UV-A（雙通道）紫外輻照計技術參數 探頭： UV-420nm 探頭 UV-365nm 探頭 波長范圍及峰值波長: λ：(375～475)nm；λP＝420nm λ：(320～400)nm；λP＝365nm 紫外帶外區雜光： UV420：小于0.02% UV365：小于0.02% 輻照度測量范圍： (0.1～199.9×103) μW/cm2 相對示值誤差： （相對與NIM標準） 角度響應特性： ±5%(α ≤10°) 線性誤差： ±1% 短期不穩定性： ±1%（開機30min后） 響應時間： 1秒 使用環境： 溫度(0～40)℃，濕度＜85%RH 尺寸和重量： 160mm×78mm×43mm；0.2kg 電源： 常規使用6F22型9V積層電池一只 亦可使用數據線連接USB接口、5V電源適配器供電 整機功耗 ＜0.2VA UV-A（雙通道）紫外輻照計產品特點 * 光譜及角度特性經校正 * 數字液晶顯示，帶背光 * 手動/自動量程切換 * 數字輸出接口（USB冗余供電） * 低電量提醒 * 自動延時關機 * 有數字保持 * 輕觸按鍵操作，蜂鳴提示
UV-A（雙通道）紫外輻照計產品用途
UV-A型紫外輻照計采用SMT貼片技術，選用低功耗數字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經過光譜及角度特性校正，性能穩定，適用性強。該儀器適用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。
UV-A（雙通道）紫外輻照計技術參數
滬公網安備 31011002002681號
