介電常數(shù)頻譜儀的應(yīng)用

高低溫介電溫譜/頻譜測量系統(tǒng)

一、 概述：

高低溫介電常數(shù)適用于各種金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物質(zhì)的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)，通過測定可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)。該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對無機(jī)金屬新材料性能的應(yīng)用研究科研機(jī)關(guān)、高校、工廠等地方。它是在特殊環(huán)境下，測量介質(zhì)在該環(huán)境溫度下的介電常數(shù)。

介電常數(shù)頻譜儀的應(yīng)用

介電性能高溫測試系統(tǒng)技術(shù)參數(shù)測量溫度：室溫-1000℃；升溫斜率：2℃/min；測溫精度：±0.1℃；控溫方式：采用 PID**控溫；高溫樣品桿：耐高溫、1000℃不氧化、電極阻抗低、絕緣好；測試方法：兩線法和四線法(鉑金電極)；樣片數(shù)量：單片；絕緣材料：氧化鋁陶瓷絕緣，特殊模具加工；測試樣品：厚度 1-10mm；直徑為 2-10mm，樣品放置位置靈活，可快捷安裝和拆卸；數(shù)據(jù)處理：可通過主機(jī) USB接口直接存儲(chǔ)，也可通過GPIB接口和軟件進(jìn)行存儲(chǔ)。測量系統(tǒng)分析軟件：提供比阻抗分析儀本身更豐富的測量功能，實(shí)現(xiàn)高溫譜(參數(shù)-T)、頻率譜(參數(shù)-f)、時(shí)間譜(參數(shù)-t)、阻抗譜(Z-f-T)、介電譜(e-T-f)、Cole-Cole圖等多種掃描曲線，數(shù)據(jù)輸出格式為 ASCII碼格式，可進(jìn)行更詳細(xì)的數(shù)據(jù)分析和處理操作，可在多窗口之間方便切換。

注意事項(xiàng)
高溫介電測試夾具與LCR儀器之間線纜連接需可靠
樣品需制備為圓盤樣品，表面光滑、平整
高溫測試過程中，高溫介電測試夾具需放入高溫測試平臺(tái)爐膛內(nèi)
較低的RBW固然有助於不同頻率信號(hào)的分辨與量測，低的RBW將濾除較高頻率的信號(hào)成份，導(dǎo)致信號(hào)顯示時(shí)產(chǎn)生失真，失真值與設(shè)定的RBW密切相關(guān)，較高的RBW固然有助於寬頻帶信號(hào)的偵測，將增加雜訊底層值（Noise Floor），降低量測靈敏度，對於偵測低強(qiáng)度的信號(hào)易產(chǎn)生阻礙，因此適當(dāng)?shù)腞BW寬度是正確使用頻譜分析儀重要的概念。

介電常數(shù)頻譜儀的應(yīng)用

整機(jī)組成：

1、加溫裝置：采用陶瓷纖維外旦內(nèi)部嵌入加熱絲組成，有著良好地保溫隔熱和升溫性能

2、控制系統(tǒng)：可實(shí)現(xiàn)對溫控升溫、降溫控制，同時(shí)對4路試樣進(jìn)行切換，實(shí)時(shí)測控測試數(shù)據(jù)

3、LCR電橋：20HZ-2MHZ