WayneKerrElectronics磁導率測試應用方案
1.磁材料樣品制作
對磁性材料進行磁導率測試通常不會對成型不規則產品進行測試，因為導致其磁導率測試結果的不確定因素過多(如GAP深度、固定方式等)，所以都會將磁性材料塑形為標準的磁環，以利于進行測試計算。
2.測試相對磁導率方法
相對磁導率的測試，可以通過先測試空氣線圈的電感和通過磁環的繞線交流電阻(不放入磁環)，然后將磁環放在同一個繞線線圈中再次測試電感和通過磁環的繞線交流電阻來實現，可以得出一個測試需要通過兩次獨立的測試來完成。通過上述的方法，用戶可以先量測一個頻率范圍的不帶磁芯的空氣線圈的由感和交流電陽，并獎其存儲在一個檔中。這些
測試結果將在后續的測試帶有磁芯的線圈中來時用，直至用戶更換了不同的空氣線圈，具體的計算公式可以參考附錄的計算公式。
3.磁導率測試夾具
測試頻密范圍:20Hz~120MHz -基本測試精度:0.05%
無需在磁環上纏繞漆包線或絲包線
測試尺寸涵蓋業內*大標準
25(外徑)*15(內徑)*10(高度)
取樣放樣方便快捷
被測物尺寸規格范圍
項目
尺寸范圍
外徑
5.0mm~30.0mm
內徑
4.1mm~29.8mm
厚度
0.01mm~15.0mm
4.1J1030夾具使用，配合1J1011使用
1、1J1030放置在1J1011上，裝載樣品 2、整套測試系統
5.1J1030配件一覽表
部件名稱
編號
名稱
1
絕緣測試底座
2
測試腔體
3
中心電極頂針
4
測試產品托盤
5
上蓋
6.WK6500B相對磁導率測試軟件
WayneKerr6500B精密阻抗分析儀，軟件選配有材料測試軟件(訂購代碼/K)，這個軟件只能安裝在精密阻抗分析儀上，不能安裝在6500P的高頻LCR表上。通過這個軟件可以更容易的計算出相對磁導率的相關參數，軟件接口如下:
磁導率測試參數：
u*r 相對磁導率復數值
u'r 相對磁導率實部
u'r 相對磁導率虛部
tan□損耗因數
D 損耗因數
軟件設置
NumberofturnsN’:繞在磁環上的圓數，在配合1030使用時設置成1
Average magnetic pathlength'磁環的平均磁路徑長度
Cross-sectional area oftoroidA:磁環的截面積
Measure Lw/Rw referencedate:建立空氣線圈參考檔
7.測試接口
儀表模式 分析模式
測試夾具選擇
1J1020
1J1022
1J1011
介電常數測試治具
（40MHz）
液體介電常數測試治具
（30MHz）
二線制DIP測試治具
（120MHz）
1J1012
1J1024
1J1011W
二線制SMD測試治具（彈片型）
二線制SMD測試治具（探針型）
四線制DIP 測試治具
(120MHz)
1J1014
1J1015
1J10154
四線制SMD測試治具
二線制DIP高電流測試治具
（125A）
（3MHz）
四線制DIP高電流測試治具
1J1016
1J10164
1J1023
二線制SMD高電流測試治具
四線制轉二線制高頻轉接頭
1J1025
1J1032
1J10324
探針式測量治具
二線制SMD底部電極測試夾具
四線制SMD底部電極測試夾具
1J1026
1J1027
1J1028
（20A）
（40A）
（80A）
1J10264
1J10284
1J1036
（60A）
（250A）
1J10362
1J1100
1J1031
電容充放電保護單元
高頻80A SMD 二線式底部接觸式轉接座
1J1037
1J1001
1J1002
偏置電流夾具適配器
四轉一測試夾具
四轉二測試夾具
1EV1006
1EV1505
1EV1905A
四線式DIP測試治具
(1MHz)
四線式測試夾具
(3MHz)
兩線式探針型高頻測試線
(50MHz)
1EV1905X
1EVA40100
1EVA40120
兩線式探針型高頻測試線SMD
精密型測試夾具
SMD鑷子式高精密測試夾具
1EVA40125
1EVA40150
1EVA40180
鑷子式高精密測試夾具
（尖型）
（大型）