●產(chǎn)品特色
1.簡易的TFT觸屏操作，10分鐘內(nèi)輕易上手
2.電介質(zhì)、壓電片及石英晶體測試解決方案
3.30 ms超高速測試速度
4.等效Rdc可高度精準(zhǔn)四線式測試，量測到0.01mΩ
5.0.05%基本**度
6.可內(nèi)建0-100mA
+/- 40V，外加可至60A DC Bias
7.可將測試波形儲存成CSV格式，放大、縮小及MARKER功能
8.20Hz~120MHz，七種機型，可隨時升級
，*高升級到120MHz
9.直覺的用戶操作接口，USB、LAN、GPIB及HANDLER
10.可使用鼠標(biāo)及鍵盤操控，也可外接打印機及使用USB接口儲存數(shù)據(jù)
11.具等效電路仿真功能，內(nèi)建同頻率LCR Meter一臺
準(zhǔn)確快速的進(jìn)行元件測試,±0.05%基本**度。
精準(zhǔn)和多功能性使WK6500系列成為各種不同類型的工作和應(yīng)用程式的理想選擇。使用者包括被動元件設(shè)計師，電介體、絕緣體的設(shè)計測試人員，及生產(chǎn)線的測試人員。
工程師需要在高頻率的狀況下以極高的精度來定義元件的特性，WK6500B系列精密阻抗分析儀成為您準(zhǔn)確易用的理想測試工具。
●測試參數(shù)
電容(C),電感(L),電阻(R),電導(dǎo)(G),電納(B),電抗(X),損耗因數(shù)(D),品質(zhì)因數(shù)(Q),阻抗(Z),導(dǎo)納(Y),相位角(θ)、介電常數(shù)（ε′ ??相對介電常數(shù)實部、ε′′r相對介電常數(shù)虛部、Dε相對介電損耗）、磁導(dǎo)率（μ ′ ??相對磁導(dǎo)率實部、μ′′r相對磁導(dǎo)率虛部、Dμ相對磁導(dǎo)率損耗）
●高精度量測
電容C,電感L及阻抗Z基本**度為±0.05%。損耗因數(shù)D**度為±0.0005及品質(zhì)因數(shù)Q**度為±0.05%。
●元件圖形掃描
WK6500B系列精密阻抗分析儀不僅提供高頻率，高精度的量測。該設(shè)備還是一個包含豐富特性的元件分析儀。
曲線掃描可依據(jù)頻率、電壓值和直流偏流源同時在清晰度高的大型彩色屏幕上顯示任意兩種參數(shù)的曲線。顯示格式包括串聯(lián)或并聯(lián)等效電路。
單測某一頻率時可以從曲線掃描轉(zhuǎn)換成標(biāo)準(zhǔn)LCR表讀值模式。
●可變的輸出和偏壓源
交流輸出可選高達(dá)1V或20mA，實現(xiàn)在真實操作環(huán)境中來評估元件。可變偏壓直流源可提供達(dá)100mA的電流.
●外部控制
在品管或制作檔譜的過程中可通過GPIB介面來控制儀器和收取讀值.
網(wǎng)端介面也具有同樣的控制儀器和傳輸資料的功能 – 使儀器能適應(yīng)許多不同的測試環(huán)境.
●多選擇的介面
VGA介面可連接到PC顯示器或投影機,這種功能為生產(chǎn)環(huán)境或教學(xué)培訓(xùn)都提供無法衡量的價值.本機還可通過外接鍵盤和滑鼠來操控,任何PS2或USB鍵盤和滑鼠都能簡單的接插到系統(tǒng)中,提供控制和操作儀器的另一種可行方式.
●資料儲存和提取
所有的測試結(jié)果及設(shè)制都可以通過網(wǎng)路介面或USB閃盤來儲存.
●分類處理介面
Bin Handler為可選設(shè)制,通過25相D型接頭提供獨立(24V)和非獨立(5V)的信號.
●印表機輸出
測試結(jié)果可通過幾種不同的途經(jīng)列印出,其中包括直接列印至HP-PCL匹配的圖形印表機, EPSON相匹配的文字印表機或直接通過儀器的網(wǎng)口經(jīng)局域網(wǎng)列印.
●待測元件連接
可通過面板的BNC接頭來實現(xiàn)倆端,三端或四埠的連接以及可能的接地狀況.備有許多的可選附件以供不同的測試需要.
●充電電容保護(hù)
高精密的測試儀器可能在使用過程中被已充電的電容裝置所損壞,造成昂貴的維修及不必要的停產(chǎn). 6500系列有內(nèi)置的保護(hù)來避免這種情況發(fā)生.
●綜合,**的高頻測試
“綜合,**的高頻測試”使該系列產(chǎn)品是高要求測試的優(yōu)良選擇.
測試夾具選擇
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1J1020
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1J1022
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1J1011
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介電常數(shù)測試治具
（40MHz）
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液體介電常數(shù)測試治具
（30MHz）
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二線制DIP測試治具
（120MHz）
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1J1012
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1J1024
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1J1011W
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二線制SMD測試治具（彈片型）
（120MHz）
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二線制SMD測試治具（探針型）
（120MHz）
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四線制DIP 測試治具
(120MHz)
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1J1014
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1J1015
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1J10154
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四線制SMD測試治具
（120MHz）
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二線制DIP高電流測試治具
（125A）
（3MHz）
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四線制DIP高電流測試治具
（125A）
（3MHz）
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1J1016
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1J10164
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1J1023
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二線制SMD高電流測試治具
（125A）
（3MHz）
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四線制DIP高電流測試治具
（125A）
（3MHz）
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四線制轉(zhuǎn)二線制高頻轉(zhuǎn)接頭
（120MHz）
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1J1025
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1J1032
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1J10324
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探針式測量治具
（120MHz）
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二線制SMD底部電極測試夾具
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四線制SMD底部電極測試夾具
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1J1026
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1J1027
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1J1028
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二線制DIP高電流測試治具
（20A）
（120MHz）
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二線制DIP高電流測試治具
（40A）
（120MHz）
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二線制DIP高電流測試治具
（80A）
（120MHz）
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1J10264
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1J10284
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1J1036
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四線制DIP高電流測試治具
（20A）
（120MHz）
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四線制DIP高電流測試治具
（60A）
（120MHz）
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二線制DIP高電流測試治具
（250A）
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1J10362
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1J1100
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1J1031
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四線制DIP高電流測試治具
（250A）
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電容充放電保護(hù)單元
（3MHz）
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高頻80A SMD 二線式底部接觸式轉(zhuǎn)接座
（120MHz）
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1J1037
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1J1001
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1J1002
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偏置電流夾具適配器
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四轉(zhuǎn)一測試夾具
（120MHz）
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四轉(zhuǎn)二測試夾具
（120MHz）
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1EV1006
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1EV1505
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1EV1905A
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四線式DIP測試治具
(1MHz)
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四線式測試夾具
(3MHz)
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兩線式探針型高頻測試線
(50MHz)
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1EV1905X
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1EVA40100
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1EVA40120
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兩線式探針型高頻測試線SMD
(50MHz)
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精密型測試夾具
(3MHz)
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SMD鑷子式高精密測試夾具
(3MHz)
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1EVA40125
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1EVA40150
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1EVA40180
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SMD鑷子式高精密測試夾具
(120MHz)
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鑷子式高精密測試夾具
（尖型）
(3MHz)
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鑷子式高精密測試夾具
（大型）
(3MHz)
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