適用于生產線上高頻 LCR Meter 的量測。
本機種一共有七種機型，分別是20Hz~5MHz, 20Hz~10MHz,
20Hz~15MHz, 20Hz~20MHz, 20Hz~30MHz, 20Hz~50MHz, 20Hz~120MHz, +/-0.05%準確度。
在生產線的高頻量測中，此機種為目前全球測試*準確，測試頻率*高的機種。
●七種機型且*高可升級到 120MHz
1J6505P 頻率范圍 20Hz ~ 5MHz
1J6510P 頻率范圍 20Hz ~ 10MHz
1J6515P 頻率范圍 20Hz ~ 15MHz
1J6520P 頻率范圍 20Hz ~ 20MHz
1J6530P 頻率范圍 20Hz ~ 30MHz
1J6550P 頻率范圍 20Hz ~ 50MHz
1J65120P 頻率范圍 20Hz ~ 120MHz
? 0.05%基本**度，頻率分辨率≤1mHz
? 簡易的TFT觸屏操作，10分鐘內輕易上手
? 電介質、壓電片及石英晶體測試解決方案
? ＜30 mS 自動化測量可結合測包機測試
? 高頻四線式技術，可測量極低Rs、等效Rdc和高Q值
? 內置交流信號：10mV ~ 1Vrms，200μA~20mArms。直流內置偏置信號：0~ 100mA/0~ +40V或-40V~ +40V（選配）。可外加WK6565高頻直流偏置電流源到40Amp
? 四種模式統一操作界面，Hander連接自動化分選設備，LAN、GPIB電腦聯機軟件通信接口
? 可使用鼠標及鍵盤操作，也可外接列表打印機及使用U盤保存數據，測試圖像
? 英國設計，接受軟硬件升級及定制化需求
●測試參數:
電容(C), 電感(L), 電阻(R), 電導(G), 電納(B), 電抗(X), 損耗因數(D), 品質因數(Q), 阻抗(Z), 導納(Y), 相位角(θ)、介電常數（ε′ ??相對介電常數實部、ε′′r相對介電常數虛部、Dε相對介電損耗）、磁導率（μ ′ ??相對磁導率實部、μ′′r 相對磁導率虛部、Dμ相對磁導率損耗）
測試夾具選擇
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1J1020
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1J1022
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1J1011
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介電常數測試治具
（40MHz）
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液體介電常數測試治具
（30MHz）
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二線制DIP測試治具
（120MHz）
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1J1012
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1J1024
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1J1011W
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二線制SMD測試治具（彈片型）
（120MHz）
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二線制SMD測試治具（探針型）
（120MHz）
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四線制DIP 測試治具
(120MHz)
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1J1014
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1J1015
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1J10154
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四線制SMD測試治具
（120MHz）
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二線制DIP高電流測試治具
（125A）
（3MHz）
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四線制DIP高電流測試治具
（125A）
（3MHz）
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1J1016
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1J10164
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1J1023
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二線制SMD高電流測試治具
（125A）
（3MHz）
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四線制DIP高電流測試治具
（125A）
（3MHz）
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四線制轉二線制高頻轉接頭
（120MHz）
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1J1025
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1J1032
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1J10324
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探針式測量治具
（120MHz）
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二線制SMD底部電極測試夾具
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四線制SMD底部電極測試夾具
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1J1026
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1J1027
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1J1028
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二線制DIP高電流測試治具
（20A）
（120MHz）
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二線制DIP高電流測試治具
（40A）
（120MHz）
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二線制DIP高電流測試治具
（80A）
（120MHz）
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1J10264
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1J10284
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1J1036
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四線制DIP高電流測試治具
（20A）
（120MHz）
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四線制DIP高電流測試治具
（60A）
（120MHz）
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二線制DIP高電流測試治具
（250A）
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1J10362
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1J1100
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1J1031
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四線制DIP高電流測試治具
（250A）
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電容充放電保護單元
（3MHz）
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高頻80A SMD 二線式底部接觸式轉接座
（120MHz）
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1J1037
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1J1001
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1J1002
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偏置電流夾具適配器
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四轉一測試夾具
（120MHz）
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四轉二測試夾具
（120MHz）
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1EV1006
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1EV1505
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1EV1905A
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四線式DIP測試治具
(1MHz)
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四線式測試夾具
(3MHz)
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兩線式探針型高頻測試線
(50MHz)
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1EV1905X
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1EVA40100
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1EVA40120
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兩線式探針型高頻測試線SMD
(50MHz)
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精密型測試夾具
(3MHz)
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SMD鑷子式高精密測試夾具
(3MHz)
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1EVA40125
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1EVA40150
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1EVA40180
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SMD鑷子式高精密測試夾具
(120MHz)
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鑷子式高精密測試夾具
（尖型）
(3MHz)
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鑷子式高精密測試夾具
（大型）
(3MHz)
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