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產品詳情
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華測儀器 表面電位衰減測試系統
產品簡介表面電位衰減測試系統是一款面向材料電學特性研究的多功能分析設備，能夠評估介質材料表面電荷動態衰減行為及陷阱能級分布，系統集高壓極化、準確溫控、快速信號采集及智能化分析于一體，支持針、柵、板三種電極配置，可模擬不同溫濕度環境下的材料電荷動態響應，為絕緣材料、功能薄膜、電子器件等領域的研究與質量控制提供數據支持。
技術參數
充電電源：±30 kV
加熱臺溫度范圍：室溫 ~ 160 ℃
控溫精度：± 0.2 ℃
輸入電壓：AC 220 V ±10%，50 HZ
額定輸出電壓：0～+30kV
額定輸出電流：≤ 1 mA
溫度系數：≤ 0.1 %/℃
測量范圍：0 ~ ±10 kV
穩定性：時間漂移<100 ppm/小時（非累積）；溫度漂移<200 ppm/℃
極化電極：針、柵、板電極
電極材質：銀或黃銅
應用領域
絕緣材料研發
評估高壓電纜、電容器薄膜等介電材料的耐壓性能與電荷消散特性；
功能薄膜分析
研究光伏背板、柔性電子器件的表面電荷行為及陷阱效應；
半導體器件優化
表征柵極介質層、封裝材料的電荷陷阱分布，提升器件可靠性；
科研與教育
高校及實驗室用于電介質物理、材料科學等領域的基礎研究與教學實驗；
電力設備質檢
檢測絕緣子、變壓器套管等電力裝備的絕緣老化狀態及壽命預測。
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