對發(fā)電機的超低頻耐壓試驗操作方法與以上對電纜的操作方法相似。下面就不同的地方作重點補充說明。
1．在交接、大修、局部更換繞組以及常規(guī)試驗時，均可進行此項試驗。用0.1Hz超低頻對電機進行耐壓試驗，對發(fā)電機端部絕緣的缺陷比工頻耐壓試驗更有效。其原因是在工頻電壓下，由于從線棒流出的電容電流在流經(jīng)絕緣外面的半導體防暈層時造成了較大的電壓降，因而使端部的線棒絕緣上承受的電壓減小；而在超低頻情況下，此電容電流大大減小了，半導體防暈層上的壓降也大為減小，故端部絕緣上電壓較高，便于發(fā)現(xiàn)缺陷。
2．連線方法：試驗時應分相進行，被試相加壓，非被試相短接接地。如圖14所示
3．按照有關規(guī)程的要求，試驗電壓峰值可按如下公式確定：
Ｕmax＝√2βＫUo
其中Ｕmax ：為0.1Hz試驗電壓的峰值（kV）
β：0.1Hz與50Hz電壓的等效系數(shù)，按我國規(guī)程的要求,取1.2
Ｋ：通常取1.3∽1.5 一般取1.5
Ｕo ：發(fā)電機定子繞組額定電壓（kV）
例如：額定電壓為13.8 kV的發(fā)電機，超低頻的試驗電壓峰值計算方法為：
Ｕmax＝√2×1.2×1.5×13.8≈35.1(kV)
4． 試驗時間按有關規(guī)程進行