快速溫度變化/濕熱試驗(yàn)箱選型規(guī)格：

快速溫度變化/濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)指標(biāo)：

1. 升降溫速率：3℃/min、5℃/min、8℃/min、10℃/min、15℃/min

2. 溫度斜率：線性平均或非線性平均

3. 溫度波動度：±0.5℃

4. 溫度偏差：±2℃

5. 濕度范圍(僅溫濕度型) ：20%～98%RH

6. 濕度偏差(僅溫濕度型) ：濕度>75%RH時偏差±3.0%RH，濕度≤75%RH時偏差±5.0%RH

7. 調(diào)溫調(diào)濕方式：BTHC平衡調(diào)溫調(diào)濕方式

8. 控制系統(tǒng)：原裝進(jìn)口全彩色液晶顯示觸摸控制系統(tǒng)，單點(diǎn)及可程式控制，支持USB2.0/CF卡存儲

9. 制冷系統(tǒng)：風(fēng)冷式或水冷式原裝進(jìn)口全封閉或半封閉壓縮機(jī)組

10. 加熱系統(tǒng)：不銹綱鰭片式加熱管加熱空氣循環(huán)方式

11. 保溫材質(zhì)：高密度玻璃棉+PU發(fā)泡

12. 內(nèi)箱材質(zhì)：SUS#304鏡面不銹鋼

13. 外箱材質(zhì)：SUS#304不銹鋼板或耐磨烤漆涂裝，底座為國標(biāo)角鐵+槽鋼

14. 標(biāo)準(zhǔn)配置：觀察視窗， ?50mm測試孔，2組試料架，超溫保護(hù)器，視窗燈

15. 電源要求：3∮ AC380V 50Hz

快速溫度變化/濕熱試驗(yàn)箱相關(guān)試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：

1. GB 6587.2-1986 電子測量儀器溫度試驗(yàn)

2. GB/T 2423.1-2008 idt IEC 60068-2-1:2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

3. GB/T 2423.2-2008 idt IEC 60068-2-2:2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

4. GB/T 2423.22-2008 idt IEC 60068-2-14:1984 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化

5. GB/T 2423.3-2006 idt IEC 60068-2-78:2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)

6. GB/T 2423.4-2008 idt IEC 60068-2-30:2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)（12h+12h循環(huán)）

7. GJB 150.3-1986 **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法高溫試驗(yàn)

8. GJB 150.4-1986 **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法低溫試驗(yàn)

9. GJB 150.9-1986 **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)

10. GJB 1032-1990 電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選方法

快速溫度變化/濕熱試驗(yàn)箱特點(diǎn)：

1. 進(jìn)口型多功能，擴(kuò)展性強(qiáng)的專用溫度控制器、操作簡單、學(xué)習(xí)容易、控制穩(wěn)定可靠，可供低溫及超低溫雙重試驗(yàn)；

2. 可靠優(yōu)良的均勻送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)，進(jìn)口離心風(fēng)機(jī)結(jié)合水平及垂直角度可調(diào)雙層百葉強(qiáng)制送風(fēng)循環(huán)設(shè)計(jì)，可避免箱內(nèi)的氣流死角，保證箱內(nèi)每個角落溫濕度均勻度更加一致；

3. 寬敞明亮的大型電熱觀察視窗：由三層超大型真空鍍膜(加熱膜)視窗及高亮度熒光燈組合而成，可清楚觀察箱內(nèi)試驗(yàn)樣品，并有效防止因內(nèi)外溫差而引起的水霧形成，讓使用者可隨時觀測試驗(yàn)箱內(nèi)的狀況；

4. 獨(dú)立于主控制器之電子式超溫保護(hù)裝置，具有可設(shè)定受測對象的溫度上限保護(hù)；

5. 用全毛細(xì)管，自動負(fù)載容量調(diào)整系統(tǒng)技術(shù)，較以往膨脹伐系統(tǒng)更穩(wěn)定可靠。溫濕度控制更準(zhǔn)確，升降溫速度快速、平穩(wěn)、均勻，為使用者節(jié)約寶貴時間；

6. 采用進(jìn)口型對臭氧系數(shù)為零的綠色環(huán)保(HFC)美國聯(lián)興制冷劑R-507、R-23；

7. 采用零部件及優(yōu)化設(shè)計(jì)方案，使機(jī)器運(yùn)行噪音較低，燥音值≤65Db；

8. 全方位、**、先進(jìn)的保護(hù)裝置：漏電斷路器、干燒保護(hù)器、缺相保護(hù)器、制冷機(jī)組超壓、過載、油壓等保護(hù)裝置。確保機(jī)器本身、被測產(chǎn)品及使用者**。

快速溫度變化/濕熱試驗(yàn)箱英文版：

Ramp Temperature ＆ Humidity Chamber

Model: SZ-THR／TR

Programmable Ramp Temperature & Humidity Chamber is suitable for Military Industry, Aeronautical Industry and so on.

Ⅰ Test Standard:

1. GB 6587.2-1986 電子測量儀器 溫度試驗(yàn)

2. GB/T 2423.1-2008 idt IEC 60068-2-1:2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

3G. B/T 2423.2-2008 idt IEC 60068-2-2:2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

4G. B/T 2423.22-2008 idt IEC 60068-2-14:1984 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化

5G. B/T 2423.3-2006 idt IEC 60068-2-78:2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)

6G. B/T 2423.4-2008 idt IEC 60068-2-30:2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)(12h+12h循環(huán))

7G. JB 150.3-1986 **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 高溫試驗(yàn)

8G. JB 150.4-1986 **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 低溫試驗(yàn)

9G. JB 150.9-1986 **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)

10. GJB 1032-1990 電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選方法

Ⅱ Specifications:

Note: ﹡ Temp. and Humid. control type SZ-THR

快速溫度變化/濕熱試驗(yàn)箱售后服務(wù)：

1. 至現(xiàn)場免費(fèi)安裝、調(diào)試，并培訓(xùn)2～5名操作人員，達(dá)到熟練操作水平；

2. 保修壹年，終身維修服務(wù)。壹年后如需更換零配件只核收成本費(fèi)；

3. 開通電話服務(wù)專線，24小時內(nèi)回復(fù)用戶，72小時內(nèi)上門調(diào)試維修；

4. 定期上門巡回服務(wù)，檢查儀器運(yùn)行狀況，對儀器進(jìn)行維護(hù)和保養(yǎng)；

5. 長期為用戶免費(fèi)提供產(chǎn)品使用說明書、維護(hù)咨詢、技術(shù)咨詢等服務(wù)；

6. 針對使用電腦軟件控制的儀器，可定期免費(fèi)提供軟件升級和技術(shù)支持。

注：以上不區(qū)分直接銷售和分銷商銷售。

快速溫度變化/濕熱試驗(yàn)箱售后服務(wù)：

1．至現(xiàn)場免費(fèi)安裝、調(diào)試，并培訓(xùn)2～5名操作人員，達(dá)到熟練操作水平

2．所購產(chǎn)品除人為或不可抗力之因素外，我公司提供叁年免費(fèi)保修，終身維護(hù)服務(wù)

3．保修期過后如需更換零配件，我公司只核收成本費(fèi)，無其它費(fèi)用產(chǎn)生

4．若用戶通過服務(wù)電話溝通不能解決問題的，我公司將派出專業(yè)售后人員在48小時內(nèi)到達(dá)用戶現(xiàn)場進(jìn)行服務(wù)

5．我公司可為用戶長期免費(fèi)提供技術(shù)支持、使用說明書、軟件升級、維護(hù)咨詢等，并盡可能的將儀器的應(yīng)用、開發(fā)方法、前景分析及試驗(yàn)前的樣品處理等告知用戶