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技術(shù)文章

絕緣阻抗(IR)測(cè)試器的應(yīng)用及原理

絕緣阻抗測(cè)試儀是用來(lái)測(cè)量絕緣電阻大小的儀器，基本上絕緣電阻測(cè)試方式是施加一固定電壓于待測(cè)物相互隔離的兩端點(diǎn)上，而電阻的量測(cè)范圍從幾百KΩ到幾GΩ量測(cè)，客戶在使用上會(huì)搭配絕緣電阻下限的設(shè)定，使產(chǎn)品符合安規(guī)測(cè)試要求，而儀器有寬的量程范圍，可以正確的量測(cè)出被測(cè)物實(shí)際的電阻值，對(duì)于一般要求高品質(zhì)、高規(guī)格的廠家，在做絕緣阻抗測(cè)試時(shí)可以從產(chǎn)品平均的測(cè)試范圍設(shè)定一個(gè)限值，不僅使產(chǎn)品符合安規(guī)*低的測(cè)試要求，更可對(duì)所生產(chǎn)的產(chǎn)品作出更加嚴(yán)格的把關(guān)。

按照目前國(guó)際上通用的執(zhí)行絕緣阻抗測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，一般是用直流 500V 或 1000V 去測(cè)試被測(cè)物的絕緣性能的好壞，然后用絕緣阻抗的大小來(lái)量化的評(píng)估被測(cè)物絕緣性能。絕緣阻抗測(cè)試的好處是可以對(duì)產(chǎn)品的絕緣性能，可以一目了然的給產(chǎn)品的設(shè)計(jì)者、生產(chǎn)者對(duì)于產(chǎn)品的材料、工藝結(jié)構(gòu)等馬上給出其一個(gè)非常直觀的結(jié)果，原則上越大越好。但是，絕緣阻抗測(cè)試的缺點(diǎn)也是顯而易見的，即絕緣阻抗測(cè)試結(jié)果的重復(fù) 性很差，且測(cè)試的值越高越會(huì)受到外在因素的影響，當(dāng)然，這也跟測(cè)試器本身的設(shè)計(jì)有關(guān)，好的儀器這一點(diǎn)會(huì)好些。我們知道，絕緣阻抗測(cè)試的電壓一般是直流 500V 或者 1000V ，這相當(dāng)于測(cè)試一個(gè)直流耐壓測(cè)試，儀器在這個(gè)電壓下面，量測(cè)出一個(gè)電流值，然后通過(guò)內(nèi)部的線路計(jì)算，將這個(gè)電流放大，*后通過(guò)歐姆定律： R ＝ U/I ，其中 U 就是測(cè)試的 500V 或者 1000V ，而 I 就是在這個(gè)電壓下的漏電流，根據(jù)耐壓測(cè)試經(jīng)驗(yàn)我們可以了解到，這個(gè)電流都是非常小的，一般都是小于 1μA 。

由上面可以看出，絕緣阻抗測(cè)試的原理，和耐壓測(cè)試完全一樣，只不過(guò)是歐姆定律的另外表述，耐壓測(cè)試使用漏電流來(lái)表述被測(cè)物的絕緣性能，而絕緣阻抗則是用電阻。

目前任何的耐壓測(cè)試器的基本功能，都是監(jiān)測(cè)被測(cè)物到地的泄漏電流。泄漏電流過(guò)大通常表明被測(cè)物存在缺陷。高壓測(cè)試所采用的電路，預(yù)先為過(guò)大電流設(shè)定了斷路電流。當(dāng)泄漏電流超過(guò)斷路電流時(shí)，高壓測(cè)試器進(jìn)入故障模式來(lái)告知操作人員被測(cè)物存在故障，儀器會(huì)自動(dòng)切斷高壓輸出，一般情況下還會(huì)在量測(cè)范圍內(nèi)指示出該電流的大小。因此，現(xiàn)今大多數(shù)高壓測(cè)試器都配有電流表，便于在測(cè)試中監(jiān)視泄漏電流。但是，由于儀器的設(shè)計(jì)不同，對(duì)于漏電流的監(jiān)控也有非常大的差異性，一般的儀器其高壓測(cè)試的回路上面，目前有兩種形式，即：

一、測(cè)試回路接地形式；即高壓測(cè)試回路線和儀器的接地點(diǎn)共同一點(diǎn)。
二、浮動(dòng)回路形式；即測(cè)試回路和儀器的接地點(diǎn)完全不同。

華儀電子的產(chǎn)品 8210/8205 絕緣阻抗測(cè)試器，在正常的測(cè)試狀況下面，是屬于上述的**種情況，但透過(guò)將測(cè)試回路 (Return) 和接地屏蔽 (CASE, GND) 短路時(shí)，也可達(dá)成測(cè)試回路接地形式，但有些廠家基于設(shè)計(jì)上的方便考量，會(huì)直接在儀器內(nèi)部將其短路，但以這樣的設(shè)計(jì)方式并非真正考慮到客戶產(chǎn)品測(cè)試應(yīng)用上的需求。

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