HK-LD耐電痕化能力驗(yàn)證計(jì)劃

華科檢測(cè)設(shè)備依據(jù)*新版ICE60112-2009《固體絕緣材料在潮濕條件下相比電痕化指數(shù)和耐電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》生產(chǎn)的“HK-LD漏電起痕試驗(yàn)儀”，將于下月參加CNAS（中國(guó)認(rèn)證認(rèn)可委員會(huì)）組織的“耐電痕化能力驗(yàn)證計(jì)劃”，計(jì)劃編號(hào)：PT003。

漏電起痕實(shí)驗(yàn)原理：

    電工產(chǎn)品中使用的多種固體絕緣材料在電場(chǎng)和污染介質(zhì)條件下，常常會(huì)逐步形成導(dǎo)電通道-漏電起痕和電腐蝕引起電氣短路。漏電起痕試驗(yàn)主要是模擬電器產(chǎn)品在實(shí)際使用中不同極性帶電部件在絕緣材料表面沉積的導(dǎo)電物質(zhì)是否引起絕緣材料表面爬電、擊穿短路和起火危險(xiǎn)而進(jìn)行的試驗(yàn)，是評(píng)價(jià)固體絕緣材料在上述電場(chǎng)和污染電解液聯(lián)合作用下耐受能力的一種重要試驗(yàn)方法。因此，漏電起痕實(shí)驗(yàn)室電器通用試驗(yàn)項(xiàng)目中的重要**參數(shù)。

    漏電起痕試驗(yàn)分為耐漏電起痕試驗(yàn)和相比漏電起痕試驗(yàn)，分別確定了固體絕緣材料的耐漏電起痕指數(shù)PTI和相比漏電起痕指數(shù)CTI。

PTI是指材料表面能夠承受50滴電解液而沒(méi)有形成漏電起痕的耐電壓值，主要用于材料和成品構(gòu)件的質(zhì)量控制。

CTI是指材料表面能夠經(jīng)受50滴電解液而沒(méi)有形成漏電起痕的*高電壓值，主要用于對(duì)材料性能的基本描述和比較。

HK-LD漏電起痕原理圖：

HK-LD產(chǎn)品實(shí)物圖：