費希爾x射線熒光光譜鍍層材料分析儀/x-ray厚度測試儀/射線鍍層厚度檢測儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237典型的應用領域有：
? 分析小于 的超薄鍍層
? 測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層
? 測定復雜的多鍍層系統
? 全自動測量，如在質量控制領域
? 分析焊錫中鉛含量
? 配備可選的 SDD 探測器：可測量鎳磷中的磷含量
費希爾x射線熒光光譜鍍層材料分析儀/x-ray厚度測試儀/射線鍍層厚度檢測儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237設計理念：
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL237是一款界面友好的臺式測量儀器。它裝備了高精度，可編程運行的 工作臺和電調的軸升降系統，是進行自動測量的理想儀器。當保護門開啟時，工作臺會自動移到放置樣品的位置。通過激光光點，可以輔助定位并快速對準測量位置。高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能，可以精-確定位測量位置。通過視頻窗口，還可以實時觀察測量過程和進度。位置的精-確微調可以直接手動調整儀器或搖桿，或通過操作鼠標和鍵盤來實現。測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設計，由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如：大型的印制電路板。所有的操作，測量數據的計算，以及測量數據報表的清晰顯示都是通過強大而界面友好的 軟件在電腦上完成的。
XDAL型鍍層測厚及材料分析儀作為受完全保護的儀器，型式許可符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V”法規規定。
為了使每次測量都在*佳的激發條件下進行，費希爾x射線熒光光譜鍍層材料分析儀/x-ray厚度測試儀/射線鍍層厚度檢測儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237配備了可電動切換的多個準直器和基本濾片。*新的半導體探測器能夠達到很高的分析精度及探測靈敏度。型 射線熒光材料分析及鍍層測厚儀有著良好的長期穩定性，這樣就大大減少了重新校準儀器的需要，為您節省時間和精力。由于采用了基本參數法，無論是鍍層系統還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行分析和測量。從元素鋁（ ）到鈾（ ），*多可同時測定種元素。尤其適合測量和分析超薄鍍層，即使是十分復雜的成分構成或是十分微小的成分含量都不成問題。儀器配備高速可編程運行的 平臺，它是質量控制和生產監控的自動測量過程的*合適的測量儀器。
費希爾x射線熒光光譜鍍層材料分析儀/x-ray厚度測試儀/射線鍍層厚度檢測儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237詳細參數規格：
1、通用規格
設計用途：能量色散X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀 用來測量薄鍍層和微小結構，分析合金和微量組分。
形式設計：臺式儀器，測量門向上開啟可編程的工作臺和電調的軸馬達驅動的可更換的準直器和基本濾片
視頻攝像頭和激光點（類）定位測量點。
測量方向：從上到下。
2、X 射線源
X射線管：帶鈹窗口的微聚焦管
高壓、三檔：10、30、50KV
孔徑（準直器） ：4個可切換準直器：圓形；長方形、可按要求定制其它規格。
基本濾片：3 種可切換的基本濾片（標準配置：鎳，鋁，無）
測量點：取決于測量距離及準直器大小；在視頻窗口中顯示實際的測量點大小。*小的測量點大小約為0.15mm直徑。
測量距離：0-80mm、在不同距離使用磚利 簡化方法的距離補償測量。如果是特定的應用程序或更高的校準精度要求，校正是必要的。
3、X射線探測
標準：x射線接收器采用珀耳帖法冷卻的半導體探測器、能量分辨率小于等于200eV、元素范圍硫為S(16)到到鈾U(92)
可選 SDD：x射線接收器采用珀耳帖法冷卻的硅漂移探測器、能量分辨率小于等于160eV、元素范圍為鋁AL(13) 到鈾U(92)
4、樣品定位
視頻系統：高分辨率 彩色攝像頭，沿著初級射線光束方向觀察測量位置手動聚焦，對被測位置進行監控
十字線（帶有經過校準的刻度和測量點尺寸）、可調節亮度的照明、激光光點用于精-確定位樣品。
放大倍數：40*-160*
5、工作臺
快速，電機驅動，可編程的X/Y工作臺
*大移動范圍 XY方向：255mm*235mm ； Z軸:140mm
Xy平臺*快移動速度 80mm/s
xyz移動重復精度 小于等于0.01mm（單向）
可用樣品放置區域 長寬：300mm*350mm
樣品*大重量 5kg，降低精度要求情況下可達20kg
樣品*大高度 140mm
6、電氣參數
電源要求 交流220v、50HZ
功耗 *大 120W(不包括計算機)
保護等級IP40
7、尺寸規格
外部尺寸寬深高 ：570*760*650
重量約115kg
內部測量室尺寸寬深高：460*495*146
8、環境要求
使用時溫度：10-40攝氏度
存儲或運輸時溫度：0-50攝氏度
空氣相對濕度 ，小于等于95%、無結露
9、計算單元
計算機：帶擴展卡的計算機系統
軟件：標準： 包含fischer winFTM BASIC 包含PDM；可選：fischer winFTM SUPER
10、執行標準
CE合格標準：EN61010
X射線標準：DIN ISO 3497和ASTM B 568
型式批準：作為受完全保護的儀器
型式許可完全符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V”法規的規定。
11、費希爾x射線熒光光譜鍍層材料分析儀/x-ray厚度測試儀/射線鍍層厚度檢測儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237訂貨號
標準半導體探測器 604-348
可選SDD探測器 605-567
如有特殊要求，可與fischer磋商，定制特殊的XDAL型號。
其他測試儀器：高強度紫外線燈、鐵素體含量檢測儀。
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