X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀/X射線測厚儀/熒光膜厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®
237采用手動或自動方式，測量和分析微小結構的印刷線路板、電氣元件及大規模生產的零部件上的鍍層。典型的應用領域有：
1，測量大規模生產的電鍍零部件
2，測量微小區域上的薄鍍層
3，測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層
4，全自動測量，如測量印刷線路板
X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀/X射線測厚儀/熒光膜厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®
237為每次測量創造理想的激發條件，儀器配備可電動調整的多個準直器和基本濾片。比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。FISCHERSCOPE®-X-RAY XDLM237系統有著出色的精-確性和良好的長期穩定性，這樣就不需要經常校準儀器，節省時間和精力。由于采用了基本參數法，無論是鍍層系統還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行分析和測量。
X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀/X射線測厚儀/熒光膜厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®
237設計理念：
1，FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237設計為界面友好的臺式測量儀器系列，配備了馬達驅動的X/Y工作臺，當保護門開啟時，工作臺會自動移到放置樣品的位置。馬達驅動的可編程Z軸升降系統。
2，高分辨率的彩色視頻攝像頭可方便精-確定位測量位置。配備了激光點，可以輔助定位并快速對準測量位置。
3，測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設計，由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如：大型的印制電路板。
4，帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品擺放，并且允許測量點的精-確調整。
5，所有的儀器操作，以及測量數據的計算和測量數據報表的清晰顯示，都可以通過功能強大而界面友好的WinFTM®軟件在電腦上完成。
6，XDLM237型鍍層測厚及材料分析儀完全滿足DIN ISO 3497標準和ASTM B 568標準，型式許可符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V”法規規定。
X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀/X射線測厚儀/熒光膜厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®
237參數規格：
1，通用規格
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設計用途
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能量色散X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF) 用來測量薄鍍層和微小結構， 分析合金和微量組分。
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元素范圍
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從元素 氯(17) 到 鈾(92) 配有可選的WinFTM® BASIC軟件時，多可同時測定24種元素
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形式設計
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臺式儀器，測量門向上開啟
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測量方向
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從上到下
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2，X射線源
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X射線管
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帶鈹窗口的微聚焦鎢管
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高壓
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三檔： 30 kV，40 kV，50 kV
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孔徑（準直器）
標準（523-440）
可選（523-366）
可選（524-061）
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4個可切換準直器
[mm]: ?0.1, ?0.2, 0.05x0.05, 0.2x0.03 [mm]: ?0.1, ?0.2,
?0.3, 0.3x0.05 [mm]: ?0.1, ?0.2, 0.3 x 0.05, 0.05x0,05 其他可按要求定制
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基本濾片
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3種可切換的基本濾片（標準配置：鎳，鋁，無）
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測量點
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取決于測量距離及使用的準直器大小， 實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的一致 小的測量點大小:光圈約? 0.1 mm（選用準直器0.05x0.05
mm時）
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3，X射線探測
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X射線接收器
測量距離
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比例接收器
0 ~ 80 mm，使用保護的DCM測量距離補償法
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4，視頻系統
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視頻系統
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高分辨率CCD彩色攝像頭，沿著初級X射線光束方向觀察測量位置 手動聚焦，對被測位置進行監控 十字線（帶有經過校準的刻度和測量點尺寸） 可調節亮度的LED照明，激光光點用于精-確定位樣品
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放大倍數
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40x - 160x
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5，電氣參數
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電源要求
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交流 220 V 50 Hz
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功率
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-大 120 W (不包括計算機)
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保護等級
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IP40
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尺寸規格
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外部尺寸
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寬x深x高[mm]：570 x 760 x 650
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內部測量室尺寸
重量
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寬x深x高[mm]：460 x 495 x 146
120kg
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6，工作臺
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設計
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馬達驅動可編程X/Y平臺
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-大移動范圍 255 × 235 mm
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X/Y平臺移動速度 ≤ 80 mm/s
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X/Y平臺移動重復精度 ≤ 0.01 mm, 單向
可用樣品放置區域 300 × 350 mm
Z軸
可編程運行
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Z軸移動范圍 140
mm
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樣品-大重量 5
kg，降低精度可達20kg
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樣品-大高度 140
mm
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環境要求
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使用時溫度
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10°C – 40°C
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存儲或運輸溫度
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0°C – 50°C
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空氣相對濕度
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≤ 95 %, 無結露
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計算單元
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計算機
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帶擴展卡的計算機系統
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軟件
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標準： WinFTM® V.6 LIGHT 可選： WinFTM® V.6 BASIC，PDM®，SUPER
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7，X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀/X射線測厚儀/熒光膜厚儀XDLM 237執行標準
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CE合格標準
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EN 61010
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X射線標準
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DIN ISO 3497和 ASTM B 568
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型式批準
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安-全而保護**的測量儀器， 型式許可符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V”法規規定。
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8，X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀/X射線測厚儀/熒光膜厚儀訂貨號
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FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237
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604-347
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如有特殊要求，可與FISCHER磋商，定制特殊的XDLM型號。
其他測量儀儀器：鐵素體測量儀SP10a、紫外線燈PS135、超聲波測厚儀27mg
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