X射線測厚儀|X-RAY鍍層分析儀|菲希爾X射線光譜儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210又名X 射線熒光光譜儀，采用手動(dòng)或自動(dòng)方式，測量和分析印刷線路板、防護(hù)及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。由于采用了Fischer 基本
參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行分析
和測量。多可同時(shí)測量從氯（17）到鈾（92）中的24 種元素。
XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。
XDL 系列儀器特別適用于客戶經(jīng)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
X射線測厚儀|X-RAY鍍層分析儀|菲希爾X射線光譜儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：
? 測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件
? 測量薄鍍層，例如裝飾鉻
? 測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層
? 全自動(dòng)測量，如測量印刷線路板
? 分析電鍍?nèi)芤?o:p>
X射線測厚儀|X-RAY鍍層分析儀|菲希爾X射線光譜儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210設(shè)計(jì)理念
FISCHERSCOPE
X-RAY XDL 設(shè)計(jì)為界面友好的臺(tái)式測量儀器系列。我們會(huì)根據(jù)樣
品平臺(tái)的運(yùn)行模式以及固定或者可調(diào)節(jié)的Z 軸系統(tǒng)來設(shè)定不同型號(hào)的儀器以滿足實(shí)際
應(yīng)用的需求。
XDL210：平面樣品平臺(tái)，固定的Z 軸系統(tǒng)
高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強(qiáng)大的放大功能，可以精-確定位測量位置。通過視頻
窗口，還可以實(shí)時(shí)觀察測量過程和進(jìn)度。配有馬達(dá)驅(qū)動(dòng)X-Y 樣品平臺(tái)的儀器還配備了
激光點(diǎn)，可以輔助定位并快速對準(zhǔn)測量位置。
測量箱底部的開槽專為大而扁平的樣品設(shè)計(jì)，可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。
例如大型的線路板。
所有的操作，測量數(shù)據(jù)的計(jì)算，以及測量數(shù)據(jù)報(bào)表的清晰顯示都是通過強(qiáng)大而界面友
好的WinFTM®軟件在電腦上完成的。
XDL 型光譜儀是安-全而保護(hù)**的測量儀器，型式許可符合德國“Deutsche
R?ntgenverordnung-R?V”法規(guī)規(guī)定。
X射線測厚儀|X-RAY鍍層分析儀|菲希爾X射線光譜儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210通用規(guī)范
用途
能量色散X 射線熒光光譜儀 (EDXRF) 用來測量薄鍍層和微小結(jié)構(gòu)，分析合金和微量組分。
元素范圍 多同時(shí)測量從氯（Cl 17）到鈾（U 92）之間的24 種元素
設(shè)計(jì)理念 臺(tái)式儀器，測量門向上開啟
測量方向 從上到下
X射線測厚儀|X-RAY鍍層分析儀|菲希爾X射線光譜儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210X 射線源
X 射線源 帶鈹窗口的鎢管
高壓 三種高壓： 30 kV，40 kV，50 kV，可調(diào)整
孔徑（準(zhǔn)直器） ? 0.3 mm (可選：圓形? 0.1 mm； ? 0.2 mm；長方形0.3 mm x 0.05 mm)
測量點(diǎn)
取決于測量距離及使用 的準(zhǔn)直器大小；實(shí)際的測量點(diǎn)大小與視頻窗口中顯示的一致。
小的測量點(diǎn)大小約? 0.16mm.
測量距離，如測量腔體內(nèi)部
0 ~ 80 mm，未校準(zhǔn)范圍，使用保護(hù)的DCM 功能
0 ~ 20 mm，已校準(zhǔn)范圍， 使用保護(hù)的DCM 功能
X 射線探測
X 射線接收器 比例接收器
樣品定位
視頻顯微鏡
高分辨 CCD 彩色攝像頭， 用于查看測量位置
手動(dòng)調(diào)焦或自動(dòng)聚焦
十字線刻度和測量點(diǎn)大小經(jīng)過校準(zhǔn)
測量區(qū)域照明亮度可調(diào)
激光點(diǎn)用于精-確定位樣品
放大倍數(shù) 20x ~ 180x
(光學(xué)變焦: 20x ~ 45x; 數(shù)字變焦: 1x, 2x, 3x, 4x)
樣品臺(tái) XDL 210
設(shè)計(jì) 固定式樣品平臺(tái)
-大移動(dòng)范圍 -
X/Y 平臺(tái)移動(dòng)速度 -
X/Y 平臺(tái)移動(dòng)重復(fù)精度 -
Z 軸移動(dòng)范圍 -
可用樣品放置區(qū)域 463 x 500 mm
樣品-大重量 20 kg
樣品-大高度 155/90/25 mm
激光定位點(diǎn) -
FISCHERSCOPE
X-RAY XDL
鍍層厚度 材料分析 顯微硬度 材料測試
電氣參數(shù)
電壓，頻率 AC 115 V 或 AC 230 V 50 / 60 Hz
功率 -大 120 W (不包括計(jì)算機(jī))
保護(hù)等級(jí) IP40
X射線測厚儀|X-RAY鍍層分析儀|菲希爾X射線光譜儀FISCHERSCOPE®-X-RAY
XDL-210儀器規(guī)格
外部尺寸 寬x 深x 高[mm]：570 x 760 x
650
重量 XDL210：90 kg；XDL220：95 kg ；XDL230：105 kg；XDL240：120 kg
內(nèi)部測量室尺寸 寬x 深x 高[mm]: 460 x 495 (參考“樣品-大高度”部分的說明)
環(huán)境要求
操作溫度 10°C – 40°C / 50°F – 104°F
儲(chǔ)藏或運(yùn)輸溫度 0°C – 50°C / 32°F – 122°F
空氣濕度 ≤ 95 %，無結(jié)露
計(jì)算系統(tǒng)
計(jì)算機(jī) 帶擴(kuò)展卡的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)
軟件
標(biāo)準(zhǔn)： WinFTM® V.6
LIGHT
可選： WinFTM® V.6
BASIC，PDM，SUPER
X射線測厚儀|X-RAY鍍層分析儀|菲希爾X射線光譜儀FISCHERSCOPE®-X-RAY
XDL-210執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)，CE 合格標(biāo)準(zhǔn) EN 61010
X 射線標(biāo)準(zhǔn) DIN ISO 3497 和 ASTM B 568
型式許可
安-全而保護(hù)**的測量儀器，型式許可符合德國“Deutsche
R?ntgenverordnung-R?V”
法規(guī)規(guī)定。
如有特殊要求，可于Fischer 磋商，定制特殊的XDL 型號(hào)。
