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噪聲分析儀紡織檢測儀器 Toc分析儀 PT-303紅外測溫儀轉(zhuǎn)矩測試儀繼電保護(hù)試驗(yàn)儀定氮儀

蘇州圣光儀器有限公司
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產(chǎn)品圖片	產(chǎn)品名稱/型號	產(chǎn)品簡單介紹
	無核密度檢測儀 LA-4114型	無核密度檢測儀/土壤無核密度儀/無核密濕度儀/無核儀LA-4114型英文俗稱EDG，是一種可替代核子密度儀，測量路基和地基壓實(shí)土壤之物理特性的無核測量儀。無核密度檢測儀EDG可測量并顯示干/濕密度、含水量，以及壓實(shí)百分?jǐn)?shù)。EDG使用簡便，可以作為建筑用輔助設(shè)備來監(jiān)控每日的壓實(shí)操作，其上等的工作性能和準(zhǔn)確的測量結(jié)果可以與傳統(tǒng)測量法，如核子密度測量法，灌砂法，以及干燥法相媲美。
	費(fèi)希爾x射線熒光光譜鍍層材料分析儀 FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237	費(fèi)希爾x射線熒光光譜鍍層材料分析儀/x-ray厚度測試儀/射線鍍層厚度檢測儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型射線熒光材料分析及鍍層測厚儀。它尤其適合在自動(dòng)化測量應(yīng)用中無損測量超薄鍍層厚度和分析材料。FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237費(fèi)希爾x射線熒光光譜鍍層材料分析儀配備可編程運(yùn)行XY軸工作臺及Z軸升降系統(tǒng)，全自動(dòng)測量超薄鍍層厚度和分析材料成分。
	菲希爾x射線熒光鍍層厚度及ROSH檢測儀 FISCHERSCOPE ? X-RAY XDV ? -SDD	菲希爾x射線熒光鍍層厚度及ROSH檢測儀/X-RAY射線光譜測厚儀/X射線分析儀FISCHERSCOPE ® X-RAY XDV ®-SDD是FISCHER產(chǎn)品中性能zui強(qiáng)大的X射線熒光儀器之一。菲希爾x射線熒光鍍層厚度及ROSH檢測儀XDV-SDD配備了特別加大的硅漂移探測器（SDD）。50mm²的探測器窗口確保能快速而精-確地測量甚是小面積的測量點(diǎn)。此外，XDV-SDD儀器還配備了各種不同的濾波片，從而能為不同的測量任務(wù)建立*優(yōu)化的激發(fā)條件。XDV-SDD可以測量含量低于1000ppm的如汞、鉛等有害金屬元素。
	手持式XRF熒光光譜儀 X-MET8000S	手持式XRF熒光光譜儀/手持式合金成分分析儀/元素含量檢測儀X-MET8000S由Oxford Instruments下屬的工業(yè)產(chǎn)品分公司研究、設(shè)計(jì)和制造，世界500強(qiáng)日立公司于2017年7月收購了牛津儀器工業(yè)分析部門，牛津手持光譜儀品牌正式更名為日立儀器HITACHI。手持式XRF熒光光譜儀X-MET8000S型是一款為客戶量身定做的X射線的熒光光譜儀。它集速度，準(zhǔn)確，堅(jiān)固和易用為一體，加上硬件，軟件的多年行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，滿足你對檢測的所有要求。
	菲希爾x-ray熒光光譜儀 FISCHERSCOPE ?X-RAY XDL ?230	菲希爾x-ray熒光光譜儀/x射線測厚儀/光譜測厚儀/射線鍍層檢測儀FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230是德國菲希爾fischer公司XDL系列機(jī)型中性價(jià)比高的一款，相比XDL-210主要的優(yōu)勢在于X軸和Y軸方向可以手動(dòng)調(diào)節(jié)，大大方便了測量的便捷性。菲希爾x-ray熒光光譜儀XDL-230還可以通過可編程XY工作臺與Z軸（可選）實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化的批量測試。XDL-230菲希爾x-ray熒光光譜儀以優(yōu)異的性能被選為國內(nèi)各省電科院/國家電網(wǎng)技能比武指定使用機(jī)型。
	X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 FISCHERSCOPE? X-RAY XDLM? 237	X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀/X射線測厚儀/熒光膜厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® 237是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。這款儀器專門是為測量分析極薄鍍層和超小含量而設(shè)計(jì)，是用于質(zhì)量控制，質(zhì)量檢驗(yàn)和生產(chǎn)監(jiān)控的合適的測量儀器。
	X-RAY熒光測厚儀 X-RAY XULM	X-RAY熒光測厚儀、X射線熒光法是高效的材料分析工具。它廣泛應(yīng)用于鍍層厚度測量，同時(shí)也適于進(jìn)行元素分析。 X-RAY熒光測厚儀\|x射線測厚儀\|x熒光光譜儀\|熒光光譜分析可以對幾乎任意尺寸和狀態(tài)的工件進(jìn)行分析。粉末和糊狀材料可以和固體或液體一樣進(jìn)行分析。
	X射線測厚儀 FISCHERSCOPE? X-RAY XDL? 210	X射線測厚儀\|X-RAY鍍層分析儀\|菲希爾X射線光譜儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型x 射線光譜儀。它是從大眾認(rèn)可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發(fā)展而來的。與上一代相類似，它尤其適合無損測量鍍層厚度及材料分析，同時(shí)還能全自動(dòng)測量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板。

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