菲希爾xulm240型X射線測厚儀技術規格

FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240是一款性能卓-越、設計緊湊、應用廣泛的X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。由先前的XULM-xym換代而來。常用于無損測量細小工件上的鍍層厚度和材料分析。特別適合在質量管控，來料檢驗及生產過程控制中測量使用。

典型應用領域比如：

1、對十分微小零部件、接插件和線材的鍍層測量

2、印刷電路板上進行手動測量

3、對珠寶和手表業中需求的測量

Fischer xulm 240 X射線熒光鍍層測厚儀的比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。如同所有的Fischerscope x-ray儀器一樣，本款儀器有著出色的精-確性以及長期的穩定性，這樣顯著減少了校準儀器所需要的時間和精力。依靠菲希爾Fischer公司的完全基本參數法，可以在沒有校驗標準片校正的情況下分析固態和液態的成分以及測量樣品的鍍層厚度。Fischer xulm 240x射線鍍層測厚儀配備了微聚焦x射線管以及可電動切換的視準器和基本濾片，因此更適合對微小型工件進行測量。

X射線鍍層測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240基本技術規格：

1、單性金屬鍍層厚度測量。

2、合金鍍層厚度測量。

3、雙鍍層厚度測量。

4、雙鍍層（其中一層是合金）厚度測量。

5、三鍍層厚度測量。

6、測量小區域：*小的測量點大小約0.09x0.09 mm。

6、測量厚度精度：當Au厚度大于0.1μm時，有標準片校準情況下<±5%,無標準片校準情況下<±10%。

測量厚度精度=（測試10次的平均值-真值）÷真值×（真值為校驗標準片證書顯示值，測試點為同一點）

儀器波動率：COV＜5% 。

COV=（S/10次平均值）×（其中S為標準偏差）

標準偏差S==

8、其他功能：用X-RAY測厚儀能分析多達四種金屬成分的合金，包括金的開數分析。

9、用X-RAY測厚儀可同時測定*多5種不同元素。

10、測定元素種類范圍：X-RAY測厚儀可測定原子序數從17-92的元素（元素

含量要求達到1%以上）。

11、量軟件及使用計算機

X-RAY測厚儀配置軟件：Win FTM。

計算機配置：HP品牌機，500G硬盤，8G內存，24”液晶顯示器（HP品牌）。

統計功能：具備統計及SPC功能。輸入統計參數，便可制作比例圖，累積

率圖并分別顯示鍍層厚度及含量等資料。

打印功能：只要接上打印機，就能將報告打印輸出。菲希爾xulm240型x射線測厚儀技術規格如上，更多技術支持隨時聯系我們。