MiniTest1100/21/31/4100 涂層測厚儀包括四種不同的主機，各自具有不同的數據處理功能； 所有型號均可配所有探頭； 可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機； 可使用一片或二片標準箔校準。
MiniTest1100/21/31/4100 涂層測厚儀功能 型號 1100 2100 3100 4100 MINITEST 存儲的數據量 應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數) 1 1 10 99 每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計，并可設寬容度極限值) - 1 10 99 可用各自的日期和時間標識特性的組數 - 1 500 500 數據總量 1 10000 10000 10000 MINITEST統計計算功能 讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar - √ √ √ 讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk - - √ √ 組統計值六種x,s,n,max,min,kvar - - √ √ 組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk - - √ √ 存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據 - - - √ 分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值 - - √ √ 顯示并打印測量值、打印的日期和時間 - √ √ √ 其他功能 設置極限值 - - √ √ 連續測量模式快速測量，通過模擬柱識別*大*小值 - - √ √ 連續測量模式中測量穩定后顯示讀數 - - √ √ 連續測量模式中顯示*小值 - - √ √ MiniTest涂層測厚儀可選探頭參數(探頭圖示) 所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇*適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。 F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層 FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能 探頭 量程 低端 分辨率 誤差 *小曲率 半徑(凸/凹) *小測量 區域直徑 *小基 體厚度 探頭尺寸 磁 感 應 法               F05 0-500μm 0.1μm ±(1%±0.7μm) 1/5mm 3mm 0.2mm φ15x62mm F1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm F1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 平面/6mm 5mm 0.5mm φ8x8x170mm F3 0-3000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm F10 0-10mm 5μm ±(1%±10μm) 5/16mm 20mm 1mm φ25x46mm F20 0-20mm 10μm ±(1%±10μm) 10/30mm 40mm 2mm φ40x66mm F50 0-50mm 10μm ±(3%±50μm) 50/200mm 300mm 2mm φ45x70mm 兩 用       FN1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm F0.5mm N50μm φ15x62mm FN1.6P 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 平面 30mm F0.5mm N50μm φ21x89mm FN2 0-2000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm F0.5mm N50μm φ15x62mm 電 渦 流 法                   N02 0-200μm 0.1μm ±(1%±0.5μm) 1/10mm 2mm 50μm φ16x70mm N.08Cr 0-80μm 0.1μm ±(1%±1μm) 2.5mm 2mm 100μm φ15x62mm N1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 2mm 50μm φ15x62mm N1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 平面/10mm 5mm 50μm φ13x13x170mm N10 0-10mm 10μm ±(1%±25μm) 25/100mm 50mm 50μm φ60x50mm N20 0-20mm 10μm ±(1%±50μm) 25/100mm 70mm 50μm φ65x75mm N100 0-100mm 100μm ±(1%±0.3mm) 100mm/平面 200mm 50μm φ126x155mm CN02 10-200μm 0.2μm ±(1%±1μm) 平面 7mm 無限制 φ17x80mm 注： F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內測量。 N.08Cr適合銅上鉻，FN2也適合銅上鉻。 CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。 MiniTest1100/21/31/4100 涂層測厚儀探頭圖示 FN1.6 0～1600μm,φ5mm 兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(0.1μm) FN1.6P 0～1600μm,φ30mm 兩用測頭， 特別適合測粉末狀的覆層厚度 F05 0～500μm,φ3mm 磁性測頭，適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等 量程低端分辨宰很高(0.1μm) F1.6 0～1600μm,φ5mm 磁性測頭 量程低端分辨率很高(0.1μm) F3 0～3000μm,φ5mm 磁性測頭 可用于較厚的覆層 F1.6/90 0～1600μm,φ5mm 90度磁性測頭 尤其適合于在管內壁測量 量程低端分辨率很高(0.1μm) F10 0～10mm,φ20mm 適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等 F20 0～20mm,φ40mm 適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等 F50 0～50mm,φ300mm 適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層 N02 0～200μm,φ2mm 非磁性測頭，尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(0.1μm) N0.8Cr 0～80μm,φ2mm 適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層 N1.6 0～1600μm,φ2mm 非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(0.1μm) N1.6/90 0～1600μm,φ5mm 磁性測頭，適于測量較薄的絕緣覆層 尤其適合在管內壁測量 量程低端分辨率很高(0.1μm) N10 0～10mm,φ50mm 非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 N20 0～20mm,φ70mm 非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 N100 0～100mm,200mm 非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 CN02 10～200μm,φ7mm 用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板

 

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