美國伊諾斯Innov-X小型臺式XRD-XRF聯用儀 BTX PROFILER旋轉多樣品系統/單樣品系統

X射線衍射技術/集成技術

BTX PROFILER的XRD技術來自于美國宇航局NASA埃姆斯實驗室，該技術曾被美國宇航局火星計劃"好奇號"、"漫游者"使用過；XRF技術則是奧林巴斯ED-XRF技術的結晶，兩大技術結合，可以提供材料的元素、成分、結構等全方面的信息，可減少實驗成本，節約時間和空間。BTX PROFILER 采用兩套獨立的X射線源和探測器，以保證快速獲取**上等的數據信息，XRD部分使用CCD二維面探測器，該探測器可以獲取整個德拜環的衍射數據信息，XRF部分則采用SDD探測器，實現更低的檢測下限和更高的靈敏度。

技術規格

XRD和XRF組合技術

①XRD微聚焦X射線管

②XRD X射線束 

③XRD準直器  ④XRD樣品 

⑤CCD探測器  ⑥XRF X射線管 

⑦濾光輪    ⑧XRF X射線束

⑨XRF樣品  ⑩ XRF SDD探測器

用于化合物分析的二維XRD

XRD采用透射衍射幾何技術，使用能量敏、

位敏的二維CCD面探測器，實現了儀器的小

型化和更為緊湊的結構

1、探測器收集整個德拜環的信息而非傳統

臺式機只能收集德拜環一個截面的信息，增大

了數據

2、檢測快速，全譜顯示而非步進掃描，普通樣

品 分鐘即可

無測角儀的XRD

使用樣品振動系統(樣品在檢測過程中以6000hz的頻率隨機振動)，替代傳統臺式XRD測角儀可以實現以下功能：

1、樣品制備簡單：樣品無需制片、壓片、刮片，只需得到<150um的顆粒即可； 2、實現樣品顆粒的全方位角度的檢測

3、完全消除檢測過程中晶體的擇優取向； 4、增加了樣品檢測量

用于全元素分析的能量色散型（ED）XRF

1、大功率射線管，配以超大面積SDD探測器；2、真正實現了在現場進行快速，準確的檢測；3、直接顯示元素的ppm含量與百分比含量；4、全元素分析，從鎂（Mg）到鈾（U）之間的所有元素；5、7個濾光片設置，可根據元素自動選擇*優濾光片；6、可選配氦氣裝置進一步提高輕質元素的檢測效果

XRD-XRF聯用儀/應用領域

BTX PROFILER集成二維XRD技術及ED-XRF技術，可對材料實現**的分析檢測，提供材料的元素組成、化學成分、晶體結構等方面的信息。**應用于地質礦產、石油地質錄井、地球化學、制藥、催化劑、法醫、材料等工業及科研領域。

礦物鑒定  XRD錄井鉆井 催化劑研發 選礦效率

礦石品位  能源勘探    腐蝕物鑒定與防腐

石油地質  **多晶型  材料成分及結構

XRF錄井鉆井  真假藥識別  教育與科研

XRD-XRF聯用儀/配置

BTX PROFILER旋轉多樣品系統

1、儀器配置帶4個樣品的自動進樣系統

2、可選配帶20個樣品的自動進樣系統

3、可按程序設定對20個樣品依次檢測分析

4、適用于檢測樣品量較大、分析時間較長、無需操作人員在場的情形

5、可選配氦氣凈化裝置，有利于Mg、Al、Si、P、S等輕元素的檢測。