奧林巴斯開發了一個用于搭接檢測的**型表層裂紋檢測解決方案，從而將渦流技術應用到航空航天工業內一個尚未探知的領域。航天飛機的結構框架上包含成千上萬個緊固件，因此確保這些緊固件完好無損的工作就變得異常艱巨。常規檢測技術一般來說不僅非常耗時，而且探出率極大地取決于操作人員的熟練技能。不過，10多年來，這個領域的檢測技術一直處于相對停滯不前的狀態，……直到現在才得到改觀。

使用渦流陣列技術極大地減少了檢測時間，提高了檢出率。這項解決方案不僅節省了人力和時間，而且其簡潔合理的檢測過程還有助于*大限度地減少錯誤的發生。

特性

• 節省時間：較EC筆式探頭檢測快達10倍，較滲透檢測快達15倍。
• 無需去除漆層；操作過程更迅速、更簡潔。
• 對探頭的放置要求不如筆式探頭或滑動式探頭那么嚴格。
• 全方位探測。
• **的可重復性。
• 已經整合到波音公司的檢測程序（757 Part 6 53-30-12）
• 簡單直觀、易于判讀的圖像。
• 數據記錄功能有助于制作**性報告。
• 可替代磁光成像（MOI）。

高分辨率掃描

推薦使用的型號為SBBR-026-300-032的ECA探頭，寬26毫米，裝有排列為兩行的32個線圈。這個探頭配置可提供更高的分辨率和更清晰的圖像，非常適用于極高分辨率的掃描。其細小的線圈（1.6毫米直徑）和高頻率（80 ～ 1000 kHz）可以探測到極其細微的裂紋。這款探頭還可以透過薄涂層，如標準厚度的漆層，進行掃查。使用這款探頭，裂紋的方向不會影響掃查的結果，因為進行的是全方位探測。對于鐵磁性緊固件，這種掃查的效率也非常高。

SBBR026-ENC探頭套裝

透過厚涂層進行掃查

另一種可以透過非導電性厚涂層掃查緊固件的探頭型號為SEB-064-005-032。雖然這款探頭不像SBBR-026-300-032款探頭可以提供高分辨率，但是其低頻范圍（0.5～ 50 kHz）和較大的線圈可以通過較厚的非導電性涂層進行掃查，如：漆層，標簽或橡膠層。因其覆蓋范圍寬泛（64毫米），因此一次可以掃查兩排緊固件。此外，對裂紋的方向沒有特殊規定，因為這款探頭可以進行全方位掃查。

簡單直觀的圖像

帶有EDM刻槽的樣件

C掃描

測量不同長度刻槽的性能

1.5毫米
鋁制緊固件

2.5毫米
鋁制緊固件

4毫米
鋁制緊固件

4毫米
鐵磁性緊固件

全方位探測

無涂層

2.5毫米的非導電性涂層

SEB064-ENC探頭套裝