BH200M正置金相顯微鏡產品特色及應用范圍：
BH200M正置金相顯微鏡，采用平場消色差光學系統和落射式柯拉照明系統，同時在落射照明系列中設計防反結構，有效防止反射光干擾成像光線，從而使成像更清晰、視場襯度更好，提供穩定可靠的操作機構,使成像更清晰,操作更簡便，廣泛應用于各類半導體硅晶片檢測、材料科學研究、地質礦物分析及精密工程等學科領域。
顯微鏡鏡體采用全新的人機工程學設計，結構勻稱，實現鏡體擴展積木化，工作臺、光強與粗微調的低位操作，提高了使用的舒適性。
l 有限遠色差校正光學系統，圖像質量好。
l 可進行攝影攝像，對觀察圖像進行采集和保存，配置電腦和專業軟件實現圖像分析
BH200M正置金相顯微鏡技術參數：