SZT-5硅材料復(fù)合測試儀 讀數(shù)清晰

SZT-5硅材料復(fù)合測試儀 讀數(shù)清晰

一、概述;
SZT-4硅材料復(fù)合測試儀，是由二種硅材料測試儀器組合而成的
1、二量程的電阻測量儀器，配以手持式四針測試頭或座式測試架，可用來測量片狀，柱狀，或塊狀，電阻率
在0.01~200歐姆/厘范圍內(nèi)的半導(dǎo)體材料。通過對恒流源的調(diào)整，可以對某些測量結(jié)果進(jìn)行修整，例如對普通硅材料的測試結(jié)果要乘以0.628的探險頭修正系數(shù)，對硅材料薄層擴(kuò)散和導(dǎo)電薄膜 “方塊電阻“ 的修正系數(shù)為4.53等均可通過調(diào)正恒流電流加以處理。
SZT－4數(shù)字式四探針測試儀，體形小巧，操作方便，量程適中，十分適於對重?zé)捇亓系姆诌x。

2、整流法硅材料P-N極性判別儀，配有三針手持式探頭，能對片狀或塊狀電阻率在1000-0.01歐姆/厘米的。硅材料進(jìn)行極性判別
本儀器工作環(huán)境條件為：
溫　　度：18℃―25℃
相對濕度：50%－70%
工作室內(nèi)應(yīng)無強(qiáng)電場干擾，不與高頻設(shè)備共用電源。

SZT-5硅材料復(fù)合測試儀 讀數(shù)清晰

二、技術(shù)參數(shù)

1、測量范圍
(1)電阻率測量：
電 阻 率      0.01-200Ω-cm
方塊電阻      0.01-200Ω-口
電    阻      0.01-200.0Ω

2、數(shù)字電壓表 
(1)量    程:  200mV單一量程
(2)誤    差:  讀數(shù) ±0.2%±3字
(3)輸入電阻:  >10MΩ

3、恒 流 源
(1)電流輸出:  0~10mA連續(xù)可調(diào)
(2)量    程:  1mA, 10mA
(3)誤    差:  ±0.2%±3字,

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4、手持式四探針測試頭
(a)探  針  間  距:1mm
(b)探針機(jī)械游移率:±1.0%
(c)探  針  材  料:碳化鎢,φ0.
(d)壓力:*大 2Kg
(2)導(dǎo)電類型判別：
可對電阻率為1000-.0.01歐姆/厘米的硅材料作導(dǎo)電類型測定，同時可以聲，光報(bào)警方式表示被測材料屬于”重?fù)健薄?/span>