掃描電子顯微鏡 JSM-6701F
產品簡介
JSM-6701F為場發射掃描電子顯微鏡(FESEM),采用冷陰極場發射槍、超高真空和精密的數字技術,可進行顯微結構的高分辨率、高質量成像。本系統裝配錐形場發射槍和semi-in-lens物鏡,可以在任何掃描速度下進行高分辨率的成像以及高質量的實時圖像顯示,使您即使在明亮的房間里也可觀察和記錄清晰的圖像。JSM-6701F可以處理直徑*大為8英寸的樣品。
產品詳細信息
JSM-6701F是**智能計算機掃描電子顯微鏡,保證了與未來計算機技術的兼容性。它****的圖形用戶界面可以控制條件設置、樣品臺馬達驅動、成像和數據存檔,確保操作穩定可靠。系統的主計算機采用了**網絡技術的Window? 2000,可在*佳條件下方便于從成像到數據處理的整個過程,使操作人員可以顯示實時圖像、通過網絡將數據保存到外接電腦、檢索和管理數據。
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型 號 |
分辨率 |
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放大倍數 |
樣品室 |
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JSM-6701F |
1.0nm |
0.5 to 30 kV |
x25 to 650,000 |
TypeI Type II Type III |
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JSM-7401F |
1.0nm (15kV) |
0.1 to 30 kV |
x25 to 1,000,000 | |
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JSM-7500F |
1.0nm (15kV) |
0.1 to 30 kV |
x25 to 1,000,000 | |
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JSM-7600F |
1.0nm (15kV) |
0.1 to 30 kV |
x25 to 1,000,000 | |
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JSM-7700F |
0.6nm (5kV) |
0.1 to 30 kV |
x25 to 2,000,000 |
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公安機關備案號:



